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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)

產(chǎn)品型號(hào):HCVP系列

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2026-02-13

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

華測(cè)儀器HCVP系列晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)通過(guò)高真空環(huán)境、電學(xué)測(cè)量和多功能集成設(shè)計(jì)為芯片、晶圓、傳感器等微納器件的性能測(cè)試提供了穩(wěn)定的解決方案。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

華測(cè)儀器HCVP系列晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)

價(jià)格僅供參考,如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例,歡迎致電我司技術(shù)工程師


HCVP系列晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)由華測(cè)儀器生產(chǎn),是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置,接下來(lái)通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn),從而使其訊,號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,通過(guò)測(cè)試機(jī)可以得到所需要的電性能參數(shù)。

產(chǎn)品參數(shù)

腔體

樣品臺(tái)尺寸:2英寸 / 4英寸 / 6英寸

樣品固定:彈簧壓片

觀察窗口:2英寸 / 4英寸 / 6英寸

真空度:10-6torr

探針臂接口:至多6個(gè)探針臂接口

其它接口:信號(hào)接口、真空接口、光纖接口、冷源接口

制冷方式:液氮/液氦 / 制冷機(jī)

控制方式:開(kāi)循環(huán)手動(dòng) / 閉循環(huán)自動(dòng)控制

溫度范圍:77K ~ 450K / 4.5K~450K

溫度分辨率:0.1K / 0.01K / 0.001K

穩(wěn)定性:±1K / ±0.1K / ±0.01K


顯微鏡

X-Y-Z 移動(dòng)行程:50mm×25mm×13mm

結(jié)構(gòu):外置探針臂,真空波紋管結(jié)構(gòu)

移動(dòng)精度:10μm  /  1μm

光源:外置LED環(huán)形光源 / 同軸光源

CCD:200萬(wàn)像素 / 500萬(wàn)像素 / 1200萬(wàn)像素


晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)


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