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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

薄膜電容電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào):HCCT-40H

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2026-01-30

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

華測(cè)儀器HCCT-40H薄膜電容電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)儀器自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

華測(cè)儀器HCCT-40H薄膜電容電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)

價(jià)格僅供參考,如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例,歡迎致電我司技術(shù)工程師


HCCT-40H薄膜電容電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn),系統(tǒng)通過(guò)準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境,并測(cè)量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數(shù)值),從而評(píng)估其溫度特性;該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠,適用于包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。


產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量項(xiàng)目:電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs,Rp) 和電感 (Ls,Lp)

測(cè)試方法:溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)(相對(duì)于溫度的變化)

                  恒定運(yùn)行檢測(cè)(相對(duì)于檢測(cè)時(shí)間的變化)

                  頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) (相對(duì)于頻率的變化)

通道配置:8通道(標(biāo)準(zhǔn));至多64通道可擴(kuò)展8通道增量

測(cè)量方法:交流四端對(duì)測(cè)量

測(cè)量范圍:測(cè)量頻率:20 Hz ~ 1 MHz

                  電容量(C):50 pF ~ 5 mF

                  損失因子(D):0.00001 ~ 9.99999

                  阻抗(Z):0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

測(cè)量?jī)x器:LCR表(可按需選擇型號(hào))

直流偏壓:0 ~ ±40V

溫度測(cè)量間隔:1 ℃

掃描周期:64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長(zhǎng):201步(范圍可定制)

補(bǔ)償:短時(shí)補(bǔ)償,開放補(bǔ)償

環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制:溫度數(shù)據(jù)采集與測(cè)量和的溫度控制同步,具有RS-485功能的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)量電纜:由聚四氟乙烯制成的同軸電纜(特性阻抗(Z),50Ω,95 pF/m)


薄膜電容電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)



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