多層陶瓷電容器溫度特性評估系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-27

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HCCT-40H多層陶瓷電容器溫度特性評估系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCCT-40H多層陶瓷電容器溫度特性評估系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢

1、至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數(shù)，至多64個通道

2、圖形功能允許實時查看測量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查

3、可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗；測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合

溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）

持續(xù)運行測試：測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數(shù)據(jù)

頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)

4、多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設備形狀定制的夾具

二、產(chǎn)品參數(shù)

測量項目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）

恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）

頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）

通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量

測量方法：交流四端對測量

測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

電容量(C)：50 pF ~ 5 mF

損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

測量儀器：LCR表（可按需選擇型號）

直流偏壓：0 ~ ±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償